Επιστημονικός Εξοπλισμός

Η Φασματοσκοπία Raman έχει εδραιωθεί παγκοσμίως ως η αναλυτική μέθοδος η οποία είναι η πιο αξιόπιστη και ακριβής για να εφαρμοστεί σε έργα τέχνης. Η Φασματοσκοπία Raman είναι πολύτιμη στην αποκατάσταση των έργων τέχνης αλλά και στην αξιολόγηση της αυθεντικότητάς τους. Κύρια πλεονεκτήματά της είναι ότι είναι μη καταστρεπτική μέθοδος καθώς δεν χρειάζεται να αφαιρεθεί δείγμα από το αντικείμενο και επίσης μπορεί να εφαρμοστεί επί τόπου χωρίς τη μεταφορά του έργου σε κάποιο εργαστήριο. Η Φασματοσκοπία Raman αναγνωρίζει τη μοριακή δομή και τη χημική σύσταση οργανικών και ανόργανων υλικών, τόσο φυσικών όσο και συνθετικών. Για το σκοπό αυτό έχουν δημιουργηθεί διεθνώς αρκετές βάσεις δεδομένων για διάφορους τύπους υλικών. Καθώς το φάσμα Raman είναι μοναδικό για κάθε ουσία, η αναγνώριση του υλικού βασίζεται στη σύγκριση του φάσματός του με τα φάσματα από την βιβλιοθήκη φασμάτων με σκοπό την ταυτοποίησή του. Το Ερευνητικό Κέντρο ΝΙΚΙΑΣ διαθέτει Φασματοσκόπιο Raman υψηλών προδιαγραφών με δέσμη laser στα 785 nm, μεταβαλλόμενη ισχύ και δυνατότητα φορητότητας. Χρησιμοποιεί βάσεις δεδομένων από τη διεθνή βιβλιογραφία και διαθέτει το ίδιο εκτεταμένη βάση δεδομένων για χρώματα και υλικά που κυκλοφορούν στην ελληνική αγορά αλλά και για υλικά που έχουν χρησιμοποιήσει Έλληνες ζωγράφοι τόσο σύγχρονοι όσο και κλασικοί.

Το σύγχρονο φορητό σύστημα Στοιχειακής Ανάλυσης Φθορισμού Ακτίνων-Χ (XRF) Model Tracer III-SD του οίκου Bruker με πηγή Ακτίνων-Χ, Rh μέγιστης τάσης 40kV, με δυνατότητα ανάλυσης και των ελαφρών στοιχείων όπως Mg, Al, Si, παρέχει την απαραίτητη επιστημονική πληροφορία για την ανάλυση και ταυτοποίηση των ανόργανων χρωστικών ουσιών κι επομένως αποτελεί το πλέον απαραίτητο αναλυτικό όργανο στη μελέτη, συντήρηση και πιστοποίηση αυθεντικότητας πινάκων και άλλων έργων τέχνης. Πρόκειται για μη καταστρεπτική μέθοδο μελέτης και ανάλυσης, που επιτρέπει τη λήψη φασμάτων από οποιοδήποτε σημείο της επιφάνειας του πίνακα (in situ) και σύγκρισή τους με πρότυπα φάσματα της αναπτυχθείσας ολοκληρωμένης βάσης δεδομένων. Εκτός από τη μελέτη έργων τέχνης, η φθορισιμετρία ακτίνων Χ (XRF) αποτελεί βασική μη καταστρεπτική αναλυτική μέθοδο της αρχαιομετρίας, για την ανάλυση και ταυτοποίηση ανόργανων χρωστικών ουσιών, με συνεχώς αυξανόμενες εφαρμογές.

Το νεοαποκτηθέν αναλυτικό όργανο υπέρυθρης φασματοσκοπίας FTIR Agilent Μοντέλο 4300 με ανιχνευτή DTGS, αποτελεί το πρώτο ολοκληρωμένο αναλυτικό σύστημα στην Ελλάδα, για τη μελέτη πινάκων και έργων τέχνης. Παρέχει την απαραίτητη επιστημονική πληροφορία για την ταυτοποίηση των χρωστικών ουσιών και αποτελεί μία απόλυτα μη καταστρεπτική μέθοδο μελέτης και ανάλυσης, επιτρέπει τη λήψη φασμάτων από οποιοδήποτε σημείο της επιφάνειας του πίνακα (in situ). Επίσης, είναι δυνατή η λήψη φασμάτων από πρότυπες σκόνες χρωστικών ουσιών και τη δημιουργία μιας ολοκληρωμένης βάσης πρότυπων φασμάτων. Εκτός από τη μελέτη έργων τέχνης, η φασματοσκοπία υπέρυθρης ακτινοβολίας αποτελεί βασική μέθοδο της αρχαιομετρίας, με βασικά πλεονεκτήματα έναντι άλλων μεθόδων, την μη καταστρεπτική in-situ ανάλυση, την ταχύτητα και ευκολία στη λειτουργία και την αξιοπιστία των αποτελεσμάτων. Για το βέλτιστο αποτέλεσμα, εφαρμόζεται συμπληρωματικά με τη φασματοσκοπία Raman και την φασματομετρία ακτίνων Χ (XRF). Η συνολική μεθοδολογία ελέγχου εφαρμόζεται σε ζωγραφικούς πίνακες, ενώ πτυχές αυτής της μεθόδου εφαρμόζονται και σε άλλα αντικείμενα τέχνης, όπως γλυπτά, κεραμεικά, γυάλινα, ξύλινα, οστέινα, υφασμάτινα αντικείμενα. Η μεθοδολογία προσαρμόζεται πάντα στις ιδιαιτερότητες των εξεταζομένων έργων, ενώ αναζητούνται διαρκώς οι πιο προωθημένες μέθοδοι για την πληρέστερη ανάλυση και ταυτοποίησή τους.